Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)
Yüzey topografisini incelemek amacıyla merkezimizde yüzey analiz tekniklerinden Nano Magnetics marka hpAFM ile vakumsuz ortamda ölçüm alınarak kullanılmaktadır. Atomik kuvvet mikroskobu (AKM) ya da taramalı kuvvet mikroskobu çok yüksek çözünürlüklü bir taramalı kuvvet mikroskobudur. Ulaşılmış çözünürlük bir kaç nanometre ölçeğinde olup optik tekniklerden en az 1000 kat fazladır. Nano boyutta görüntüleme, ölçme ve malzeme işleme konusunda en gelişmiş araçlardan biridir. Bilgi, mekanik bir ucun yüzeyi algılamasıyla toplanır. Küçük fakat hassas hareketleri sağlayan piezo-elektrik malzeme, doğruluğu kesin ve hassas bir tarama sağlar. İletken manivelalar kullanmak suretiyle numune yüzeyindeki elektrik potansiyeli de taranabilir.
High performance AFM özellikleri aşağıdaki gibidir:
Tarama,
24 bit, 100µm XY tarama, 0. 1 nm çözünürlük
24 bit çözünürlükle 12, µm Z alanı, 0.01nm çözünürlük
Optik sensorlarla XYZ eksenlerinde lineerleştirilmiş tarama
Vakumlu örnek tutucu
1”, 2”, 3” lik örnekler için farklı vakum aparatları
XY den ayrılmış Z tarayıcı
XY numune tarayıcı yük kaldırma kapasitesi 500 g
Motorize Z hareket tablası ile 50 mm hareket, 250 nm çözünürlük
XY tablası ile motorize 76mm hareket, 50nm çözünürlük,
RF modülasyonlu düşük gürültülü 635nm dalga boyunda lazer
Lazer kafa gürültü tabanı fm/vHz (maks.)
SSS uçlar ile <14 nm manyetik çözünürlük
5 MP renkli CCD kamera
Renkli CCD kamera ile kayıt ve görüntüleme
Optik zoom
0.7um optik çözünürlük
Kontrol Elektroniği ve Yazılımı,
3B görüntüleme
Görüntü isleme, analiz ve kayıt fonksiyonları
Simultane veri alma
4096 x 4096 piksele kadar çözünürlük
Cantilever frekansını otomatik bulma
24 bit çözünürlükte Scan DAC’lar
24 bit Z-DAC çözünürlüğü
FPGA temelli dijital geri besleme
TTM ve AKM geri besleme döngüleri
24 Bit 200 kHz, 16 kanalli ADC
±10V, bit bias voltaj çıkısı
0.030 nm RMS gürültü oranı
5mHz çözünürlükte Digital PLL
