Profilometre Sistemi

Dektak 150 yüzey profilometresi endüstrinin en iyi performanslı, üretim çevreleri ve araştırmacılar için en geniş standart tarama alanına sahip bir cihazdır. Katı destek ünitesi ile ölçüm sırasında oluşabilecek gürültüyü en aza indirir. Kompresörlü hava masası ile titreşimlerden ve dış etkilerden en az etkilenecek şekilde tasarlanmıştır. Dış ortamdan etkilenmesini önlemek için dışında kafes şeklinde bir bölme bulunmaktadır. Dektak sistem yazılımı kolay kullanılabilen windows XP yazılımı ile kapsamlı analiz fonksiyonu sağlar.

Dektak-150 yüzey profilometresi ince ve kalın tüm numuneler için kullanılabilen 100 Å altındaki basamakları ölçebilen basamak yüksekliği ölçüm aracıdır. Nanometre mertebesindeki yüzey ölçümlerine ilaveten yüzey topografyası ve dalgalanması için kullanılabilir. 6 inch boyutunda ve 4 inch kalınlığına kadar numuneleri analiz edebilmektedir. Sistem 6 Å basamak yüksekliğini verir. 

Dektak 150 elmas uçlu stylusun altındaki numunenin hareketi ile ölçümü alır. Yüksek duyarlı tabla kullanıcının uzunluk, hız ve stylus gücü programlamasına göre stylusun altındaki numune hareket eder. Numune hareket ettikçe, stylus yüzeyi belirlenen uzunlukta dikey olarak tarar. Tarama uzunluk aralığı 50 μm-55 mm arasındadır. Yüzey profilometresinde X-Y doğrultusunda da tarama yapılabilir. Ölçüm alındıktan sonra Veeco yazılım programı ile ölçümler 2 boyutlu, 3 boyutlu şekilde incelenebilir, X-Y doğrultusuda yüzey profili çıkarılabilir, yüzeyin biçimi, düzlükler, pürüzlülük ve dalgalanmalar incelenebilir, basamak yüksekliği ölçülebilir.